新款LAC介绍视频
无需接触！即刻测量半导体芯片的倾斜度和反射角度
绝不损坏半导体芯片或硅片
小款型的设计，为您节省更多安装空间
适用于合并到设备和工件中
宽广的测量范围和高分辨率
即便是小的半导体芯片也可测量
新款LAC介绍
即刻测量芯片的倾斜度和反射角度
无需接触！即刻测量倾斜度和反射角度
绝不损坏芯片或硅片
小款型的设计，为您节省更多安装空间
适用于合并到设备和工件中
宽广的测量范围和高分辨率
即使小芯片也可进行倾斜测量
スペース
LAC使用案例介绍
无需接触！即刻测量各种应用中的倾斜度和角度
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